Disciplina cti020 - Caracterização dos Materiais Avançados - PPGCTI

Estrutura curricular

Disciplina do PPGCTI
cti020 - Caracterização dos Materiais Avançados

  • Disciplina não obrigatória
  • Início: 14/01/2025
  • Nível: Mestrado
  • Créditos: 4 (Créditos computáveis)
  • Períodos de oferta: 1
  • Ementa
  • Objetivos: fornecer ao estudante conceitos associados aos métodos de análise e caracterização de materiais. Nesse sentido, o conteúdo programático inclui: Análise e Caracterização de Materiais, Interfaces e Recobrimentos. Métodos de Caracterização e Análise. Microscopia óptica e eletrônica, Microscopia de Força Atômica, Caracterização por Difração de raio-X, Análise Térmicas, Métodos Espectroscópicos, Espectroscopia eletrônica, Vibracional e Rotacional. Técnicas de análise de superfícies. Aplicações das Técnicas de Análise de Superfícies e Interfaces. Análise de Falha e Defeitos. Avaliação de morfologia tridimensional (GISAX, microtomografia e outros). Fluorescência de raios-X (XRF), espectrometria de absorção atômica (AA), plasma induzido acoplado (ICP) e espectrometria de emissão. Ressonância Magnética Nuclear (RMN), espectroscopia Raman.
  • Bibliografia
  • Bibliografia Básica: 1. EVANS, Charles A. Encyclopedia of materials characterization: surfaces, interfaces, thin films. Gulf Professional Publishing, 1992. 2. SKOOG, Douglas A.; HOLLER, F. James; CROUCH, Stanley R. Principles of instrumental analysis. Cengage learning, 2017. 3. VICKERMAN, John C.; GILMORE, Ian S. (Ed.). Surface analysis: the principal techniques. John Wiley & Sons, 2011. 4. Handbook of Surface and Interface Analysis: Methods for Problem-Solving by J. C. Riviere (Editor), S. Myhra (Editor), 968 p., Publisher: Marcel Dekker; (January 27, 1998), ISBN: 0824700805. 5. Surface Analysis Methods in Materials Science, by D. J. O'Connor (Editor), B. A. Sexton (Editor), R. St. C. Smart (Editor), Hardcover: 586 pages; Publisher: Springer Verlag; 2nd edition (August 15, 2002), ISBN: 3540413308. 6. PADILHA, Angelo Fernando; AMBROZIO FILHO, Francisco. Técnicas de análise microestrutural. 2014. 7. CANEVAROLO JR, Sebastião V. et al. Técnicas de caracterização de polímeros. Artliber, São Paulo, v. 430, n. 2004, 2004. 8. BUNSHAH, Rointan Framroze. Deposition technologies for films and coatings: developments and applications. (No Title), 1982. 9. GOLDSTEIN, Joseph I. et al. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. springer, 2017.