Disciplina PGQ623 - DIFRATOMETRIA DE RAIOX X E MÉTODO DE RIETVELD - PPGQ

Estrutura curricular

Disciplina do PPGQ
PGQ623 - DIFRATOMETRIA DE RAIOX X E MÉTODO DE RIETVELD

  • Disciplina não obrigatória
  • Início: 05/09/2014
  • Nível: Mestrado
  • Créditos: 4 (Créditos não computáveis)
  • Períodos de oferta: 0
    • Ementa
  • Sólidos. Espalhamento de raios X. Experimento de difração de raios X. Padrão de difração de raios X. Análise de dados de difração de raios X. Método de Rietveld.
    • Bibliografia
  • 1. B.D. CULLITY – Elements of X-ray Diffraction, Addison-Wesley Publishing Company, Inc., 1978, EUA. 2. AZÁROFF, L. V. “Elements of X-Ray Crystallography”. McGraw-Hill Book Company, Inc. (1968). 3. JENKINS, R.; SNYDER, R. L. “Introduction Powder Diffractometry,” Volume 138 in Chemical Analysis, John Wiley & Sons, Inc. (1996). 4. R. A. YOUNG, The Rietveld method, Oxford University Press Inc., 1993, EUA. 5. WARREN, B. E. “X-Ray Diffraction”. Dover Publications, Inc. (1969). 6. Zachariasen, W.H. "Theory of X-ray Diffraction in Crystals", Dover Publications, INC., New York (1994).