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Notícias
Disciplina
PGQ 647 | CARACTERIZAÇÕES AVANÇADAS DOS MATERIAIS
Créditos: 4 | Créditos computáveis
Obrigatoriedade: Disciplina não obrigatória
Periodicidade [período(s) de oferta]: 1, 2
Desde 01/03/2023
Análise e Caracterização de Materiais, Interfaces e Recobrimentos. Análise de Falha e Defeitos. Avaliação de morfologia tridimensional (GISAX, micro-tomografia e outros). Fluorescência de raios-X (XRF), espectrometria de absorção atômica (AA), plasma induzido acoplado (ICP) e espectrometria de emissão. Espalhamento Dinâmico de Luz (DLS). Potencial Zeta. Espalhamento Raman. BET. Porosimetria de Mercúrio.
Bibliografia Básica:
1. B. Evans, Encyclopedia of Materials Characterization: Surfaces, Interfaces, Thin
Films, Butterworth-Heinemann, Boston, 1992.
2. D. Skoog and J. Leary, Principles of Instrumental Analysis, Sauders College Publ.,
NY, 2017.
3. Surface Analysis - The Principal Techniques by John C. Vickerman (Editor), 474 p.,
John Wiley & Sons; 2009 ISBN: 0471972924.
4. Handbook of Surface and Interface Analysis: Methods for Problem-Solving by J. C.
Riviere (Editor), S. Myhra (Editor), 968 p., Publisher: Marcel Dekker; 2009. ISBN:
0824700805.
5. Surface Analysis Methods in Materials Science, by D. J. O'Connor (Editor), B. A.
Sexton (Editor), R. St. C. Smart (Editor), Hardcover: 586 pages; Publisher: Springer
Verlag; 2003, ISBN: 3540413308.
6. CANEVAROLO Jr., S. Técnicas de Caracterização de Polímeros. Paulo: Artliber,
2004. 448p
Bibliografia Complementar:
1. Bunshah et al, Deposition Technologies for Thin Films and Coatings, Noyes, NJ,
1989.
2. J. I. Goldstein et al, Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, Plenum
Press, NY, 1998.
3. KRUG, F. J. Métodos de Preparo de Amostras: Fundamentos sobre Preparo de
Amostras Orgânicas e Inorgânicas para Análise Elementar. 1 ed. Piracicaba: Editado
por Francisco José Krug, 2010.
4. Colpaert, H; Costa & Silva, A. L. V. Metalografia dos Produtos Siderúrgicos
Comuns. Blucher, 4° ed., 2008
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